科技展会上部分企业为展示最新研究成果，可能会选择将核心部件或最新技术带到现场，让广大参观者“一饱眼福”甚至亲身体验。但别有用心之人可能通过接触的机会有意“刮取”展品材质进行分析，以窃取相关材料信息。如果目标物价值极大，更有甚者可能会盗窃、抢夺参展设备，以获取第一手资料。有公开案例显示，一高新科技企业在活动现场展示其最新研制的芯片，但该芯片样品竟不翼而飞，虽仅是工程样品，但其架构设计仍具备极高商业价值。
在科技展会咨询环节，一些别有用心人员、组织可能以资料收集、合作问询、代理洽谈为名，“拼图式”采集参展企业单位敏感设备信息。通过大量看似“支离破碎”“无关紧要”的数据汇聚、整合，反向推导、完善出其想要的“设计蓝图”。此类窃密通过多维度、多渠道咨询往往能够降低参展企业的警惕。有公开案例显示，曾有人员以学术交流为契机，在展会期间频繁出入涉密学术研讨现场，还通过索要活动资料、收集参会人员名单、记录现场人员发言等方式搜集零散片段信息，提供给境外间谍情报机关以分析整合形成战略性情报。
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